三维超景深显微镜测量仪真彩3D显示
大景深深度合成成像，高低差样品全域对焦；多方位智能照明，弱化反光干扰；集成2D/3D测量分析，兼顾形貌观察与参数量化；支持模板批量检测，报告输出便捷；适配多行业微观外观与尺寸检测，拓展配置丰富。

三维超景深显微镜测量仪真彩3D显示

硬件与检测性能优势

1. 大景深光学系统，深度合成成像，适配高低差样品

搭载4K CMOS图像传感器与自研远心镜头组件，景深表现优于传统光学显微镜，针对凹凸、倾斜、台阶类样品，依靠深度合成功能，可将不同焦平面图像合成整张全域对焦图像，减少反复调焦操作。倍率覆盖范围广，可实现低倍全景浏览至高倍细节观测无缝切换，无需更换镜头即可完成多尺度样品观察，样品无需复杂制样，实现非接触式观测。

2. 多方位智能照明，适配复杂反光样品

配备多角度可调节多功能照明系统，支持搜索照明、光学阴影效果模式，可自动切换光源角度，弱化金属、抛光件强反光、光晕干扰，凸显表面细微划痕、凹坑、裂纹等微观形貌特征，适配高反光、低对比度各类工件表面观测 。支持电动载物台选配，可实现图像无缝拼接，拓展大尺寸样品全域成像能力。

3. 机型配置丰富，拓展模块选择多

整机一体化集成成像、显示、控制单元，操作手柄人机交互便捷；可搭配金相专用镜头、大行程载物台、手持观测组件；可选清洁度分析、粒度统计、LIBS元素分析拓展模块，兼顾实验室台式检测与现场观测场景，一台设备覆盖外观观察、图像采集、尺寸测量多项工作 。

软件与数据处理优势

1. 2D/3D一体化分析，功能集成度高

配套专用分析软件，可完成二维尺寸、角度、面积计数；三维高度、轮廓、R角、体积、表面粗糙度等参数解析，满足缺陷分析、断口形貌、磨损量化、颗粒统计等检测需求 。内置图像比对、异常识别功能，可将待测样品与标准参考图像做对比，标记样品表面差异位置，辅助外观缺陷筛查。

2. 模板化作业，数据留存与报告输出便捷

可保存观测、测量模板，批量样品直接调用模板完成重复检测，降低人员操作门槛；原始图像、3D形貌数据完整存储，支持自定义报告模板，图片、测量数据可导出；支持外接存储、局域网数据共享，适配质检归档、科研记录流程，可对接外部数据管理系统。

行业应用与配套服务优势

1. 覆盖多行业微观检测场景

广泛应用于3C电子半导体、汽车零部件、刀具模具、医疗器械、新材料薄膜、五金加工、失效分析等领域；用于裂纹、划痕、异物、磨损、焊点、截面形貌观测，完成来料检验、工艺研发、失效解析、成品质控工作 。

2. 成熟应用案例，国内技术渠道完备

设备拥有大量行业落地案例；国内可提供选型评估、安装调试、实操培训，协助客户搭建样品检测方案，提供设备维保、固件升级等配套技术支持。

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