工业型原子力显微镜AFM
闭环三轴压电扫描，支持多类成像与力学电学测试；多机型可选，可拓展光学、拉曼原位联用；智能进针保护探针样品，光学定位便于调试；配套完备分析软件，实现纳米形貌与物性定量表征；国产自研，适配科研、工业质检与教学场景，本土技术服务支持到位

工业型原子力显微镜AFM

硬件与检测性能优势

1. 闭环三轴独立压电扫描架构，成像稳定性较好

搭载XYZ三轴闭环压电陶瓷扫描器，自带硬件非线性校正，降低扫描畸变，可实现纳米尺度表面形貌采集 。系统噪声控制表现良好，支持接触模式、轻敲模式、相位成像、侧向力、磁力、静电力等多种基础成像模式；同时支持F‑Z力曲线、力谱Mapping等力学测量，可获取样品表面力学相关信息 。配备CCD光学定位观测系统，可直观观察探针、样品位置，简化光斑调节、探针更换操作流程，降低调试难度 。设备配置智能自动进针机制，马达驱动趋近，可减少探针、样品发生磕碰的风险。

2. 多机型模块化设计，拓展选配方案丰富

产品线覆盖科研台式、工业大样品型、光学一体化、拉曼联用一体机、教学便携机型，可匹配不同实验室、产线使用场景。工业机型采用探针移动扫描方案，样品保持静止，可兼容大尺寸晶圆、大规格光学基板，样品重量限制宽松；龙门式结构搭配大理石底座，可选配气浮减震台、电磁屏蔽罩，削弱环境振动、电磁信号带来的干扰。支持液体环境测试模块、光学集成模块、AFM‑拉曼原位联用模块选配，同一台设备可拓展形貌、力学、电学、光谱多维度表征能力，实现同点位原位多信息采集。

3. 结构维护友好，适配长期连续实验

整机采用模块化电控结构，后期检修维护便捷；探针拆装、激光光斑调节流程简易，降低人员操作门槛；支持256×256至4096×4096多档采样点数，兼顾扫描速度与图像细节表现，扫描角度0‑360°可调，适配多样品测试需求。

软件与数据处理优势

1. 功能完备的采集分析软件，操作流程简洁

配套专用扫描探针分析软件，多通道图像同步显示，可实时查看剖面曲线；内置倾斜校正、滤波、图像剪切、扫描区域偏移等处理工具；支持针尖共振峰自动搜索、扫描器灵敏度校正，减少人工干预工作量。可输出粗糙度、颗粒统计、台阶高度、力谱数据等结果，满足纳米表面定量分析需求。

2. 数据完整留存，满足科研与质检归档

原始扫描图像、力谱曲线完整保存，图像色板、扫描参数可自定义；支持数据导出，适配科研论文、项目归档；软件兼容主流Windows系统，可对接实验室数据管理流程。

行业应用与本土服务优势

1. 适配多领域纳米表征场景

多用于新材料薄膜、二维材料、高分子聚合物、半导体晶圆、光学元件、生物样品、涂层镀层等方向；完成表面形貌、粗糙度、颗粒尺寸、纳米力学、电学特性表征，服务材料研发、工艺评估、失效分析、教学实验等工作 。

2. 国产自研设备，配套服务响应便捷

扫描器、电路控制、分析软件国内自主开发；可提供选型评估、安装调试、实操培训，协助开展样品测试方案调试；国内多地配置技术服务团队，备件供货周期可控，后期维护成本可控，支持设备功能定制改造。

工业型原子力显微镜AFM