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  • 反射膜厚测量仪半导体光学膜厚仪

    反射膜厚测量仪半导体光学膜厚仪 1.非接触无损测量,不损伤样品,适配各类薄膜、涂层检测 2.测量精度高,膜厚重复性可达0.02nm,覆盖纳米‑微米宽量程(1nm‑70μm) 3.支持单层/多层膜解析,可同时测算膜厚、折射率、消光系数等光学参数 4.微区定点测量,光斑最小至10μm,显微定位,精准测微小区域点位

    更新时间:2026-09-22
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